MENU DI NAVIGAZIONE:

Monitoraggio dei Campi EM di origine antropica

Nelle bande ELF-LF-VHF-UHF (50 Hz, 100 kHz - 3 GHz)

Del Dott. Ing. Angelo Lozito

5.I. Procedure tecniche per le criticità dovute agli impianti per le telecomunicazioni

Si possono definire situazioni critiche quelle per le quali risulta che uno o più valori registrati dalle centraline sono superiori al 75% dei limiti imposti dalla normativa per gli impianti per le telecomunicazioni (da 100 kHz a 3GHz).

frequenza campo elettrico (V/m) campo elettrico (V/m) campo elettrico (V/m)
limiti di esposizione warning (75%) valori di attenzione warning (75%) obiettivi di quilità warning (75%)
0,1 ÷ 3 MHz 60 45 6 4,5 6 4,5
3 MHz ÷ 3.000 MHz 20 15 6 4,5 6 4,5
3.000 MHz ÷ 300 GHz 40 30 6 4.5 6 4,5

 

Le criticità delle situazioni sono deducibili dai rapporti sui dati registrati dalle centraline, che il C.R.D. (Centro Raccolta Dati) invia al C.C.R. (Centro Coordinamento Rete) termine di ogni ciclo di ogni monitoraggio.
In tali casi:

  • gli organi preposti al controllo (ARPA) procedono ad eseguire misurazioni a banda larga nel punto di posizionamento della centralina, adottando le modalità previste dalla norma CEI 211-7 del 2001, tenendo conto dei periodi delle giornata in cui sono stati registrati i superamenti, come risulta dalla registrazione dei dati delle centraline.
  • ove le misure a banda larga confermassero i superamenti della soglia, vengono attivate le procedure di misura a banda stretta che consentono, tra l'altro, di conoscere la frequenza di ogni singola emissione e quindi il gestore dell'impianto.
  • se le verifiche a banda stretta confermassero il superamento dei limiti di legge, la normativa prescrive “la riduzione a conformità delle emissioni”.

Con la ripetizione della misura con strumentazione a banda stretta, eseguita nella medesima posizione della precedente misurazione a banda larga e nello stesso periodo di tempo, si ottengono, per ogni emissione, le seguenti ulteriori informazioni:

  • frequenza;
  • contributo del campo elettrico;
  • direzione provenienza della emissione;
  • polarizzazione del campo.

Le prime due informazioni assumono decisiva rilevanza amministrativa, poiché dalla conoscenza della frequenza di emissione è possibile risalire al gestore dell'impianto, mentre la conoscenza del contributo del campo elettrico della emissione consente di verificare, noti i contributi di tutte le emittenti, il superamento evidenziato dalla misure a banda larga e dalle centraline. Ciò perché la tecnica di misura a banda stretta è caratterizzata da una maggiore precisione rispetto e quella a banda larga.
Nel caso di superamenti dei limiti, le informazioni fornite dalle misure selettive consentono di procedere alla cosiddetta riduzione a conformità dei valori di immissione del campo elettrico generato dagli impianti, come prescritto dall'Allegato C del D.P.C.M. 8-7-2003.
In sintesi tale prescrizione ha lo scopo di ridurre i singoli contributi di campo in modo che la loro somma(quadratica) rientri nei limiti previsti dalla citata norma.
Lo schema concettuale del procedimento è di seguito sintetizzato.

FIGURA 27 Schema concettuale della riduzione a conformità Schema concettuale della riduzione a conformità

La riduzione a conformità dei valori del campo elettrico di immissione Ei di n sorgenti, riferiti al punto di misura, ha il seguente presupposto:

con Ei i valori misurati del campo elettrico di ciascuna delle n sorgenti, ed Li i relativi limiti in funzione della frequenza.

In termini generali, il problema si enuncia come segue:
Calcolare il fattore di riduzione a che, applicato ai singoli valori misurati di campo elettrico Ei con riferimento ai rispettivi valori dei limiti Li, soddisfi la seguente relazione:

In tale calcolo sono esclusi i contributi minori di 1/100 del limite per essi previsto.

Occorrerà preliminarmente determinare la somma dei valori normalizzati C che, per le condizioni assunte, è maggiore di 1:

Si possono generalizzare i seguenti casi:

  1. Ciascuna delle n sorgenti fornisce un contributo EiP inferiore al proprio limite Li (situazione particolare ma più frequente).

    Il fattore di riduzione α è dato dalla:

    Quindi i valori ridotti a conformità EiPR si ottengono moltiplicando ciascun valore di campo elettrico misurato EiP per α:

  2. Situazione più generale:

    • una o più sorgenti con valori di immissione EiS superiori al limite previsto;
    • una o più sorgenti con valori di immissione EiP inferiori al limite previsto;
    • una o più sorgenti con valori di immissione EiF inferiori all'1% del limite previsto.

    La prima operazione da eseguire è la riduzione delle sorgenti che hanno un valore di immissione Eis superiore al limite previsto Li. Per tali sorgenti occorre calcolare il fattore di riduzione β

    I valori ridotti si ottengono moltiplicando per βi i valori di campo elettrico misurati EiS.

    Con tali valori si procede alla verifica della condizione generale per la riduzione a conformità

    Occorre poi verificare quali e quante sorgenti EiF forniscono un contributo inferiore all'1% del loro limite, attraverso la condizione:

    Per tali sorgenti si calcola la somma normalizzata

    Si calcola quindi la somma normalizzata CT di tutte le sorgenti che hanno un contributo superiore all'1%. Avendo già ridotto i valori di quelle sorgenti con contributi superiori al proprio limite, il fattore di riduzione a che si applica alle sorgenti che hanno contributi uguali o superiori all'1% è dato da:

    I valori ridotti a conformità si ottengono moltiplicando ciascun valore di campo elettrico da ridurre per α.

    Il procedimento va reiterato se la somma normalizzata dei quadrati dei contributi ridotti risultasse ancora maggiore di 1.

TORNA SU SUCCESSIVO